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    86. SIBATA柴田
    87. TAISEI
    88. MITSUI三井電氣
    89. 加熱器
    90. 產(chǎn)品展示
      • 多功能多通道光譜探測器,支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內(nèi)進(jìn)行。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng),無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外,它還與軟件相結(jié)合,支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
      • 在晶圓等研磨和拋光過程中,我們以超高速和高精度測量晶圓和樹脂的厚度。
      • 除了能夠進(jìn)行高精度薄膜分析的光譜橢圓測量外,我們還通過安裝測量角度的自動可變機(jī)制,支持各種薄膜。 除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外,還通過設(shè)置緩速板的自動解吸機(jī)制,提高了測量精度。
      • 我們的 MCPD 系列內(nèi)聯(lián)薄膜評估系統(tǒng)采用光學(xué)類型,可在非接觸式和無損條件下檢測薄膜厚度、濃度和顏色。 可測量薄膜厚度范圍為 65nm 至 92μm,從薄膜到厚膜。 (折射率為1.5時) 測量原理為分光干涉方式,在實現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時,還支持多層厚度測量。 由于采用專有算法可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控,因此我們提出了*適合在線膠片監(jiān)視器的系統(tǒng)。
      • 我們的 MCPD 系列采用柔性光纖,可集成到從原位到內(nèi)聯(lián)的各種位置和應(yīng)用。 由于測量原理采用光譜干涉系統(tǒng),因此在實現(xiàn)高測量可重復(fù)性的同時,還支持多層厚度測量。 采用專有算法,可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控。
      • OPTM(Optim)是一種利用顯微分光在微區(qū)域進(jìn)行**反射率測量,可實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜(如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料)可以無損或非接觸式測量。 測量時間可以高速測量 1 秒/點。 此外,它配備了一個軟件,即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
      • 固體激光器和高靈敏度探測器(冷卻光電倍增管)可用于測量 0.5nm 至 5000nm 顆粒的顆粒大小分布(顆粒大小和顆粒大小分布)。
      • 使用靜態(tài)光散射法測量**分子量、慣性半徑和**維系數(shù)是可能的。
      • 使用動態(tài)光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布(顆粒大小和顆粒大小分布),并使用靜態(tài)光散射方法測量**分子量、慣性半徑和**維真實系數(shù)。
      • 特點 ■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本,無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量,也可以通過改變每個樣本的條件進(jìn)行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置,實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能(只需單擊一下即可 開始測量),無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細(xì)胞塊,無分包的無孔, 每個細(xì)胞都是獨立的,因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能,可輕松設(shè)置溫度 ■AS50的特點 連續(xù)測量多達(dá) 50 個樣本 即使在測量過程中也能添加樣品 樣品集簡單方便(*多可批量更換 50 個樣品) 有機(jī)溶劑兼容(玻璃一次性電池) 樣品容量 *小 0.4ml
      • 該裝置可用于用稀釋溶液到濃縮溶液測量Zeta電位。 測量電滲透流,使用*小容量為 130μL 的一次性電池進(jìn)行測量,可實現(xiàn)高精度 Zeta 電位測量。 此外,在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi),可以進(jìn)行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
      • 除了使用傳統(tǒng)稀釋溶液和濃縮溶液測量Zeta電位和顆粒直徑外,該裝置還能夠測量分子量。 對應(yīng)于顆粒大小測量范圍(0.6nm 至 10μm)和濃度范圍(0.00001% 至 40%)。 測量電滲透流,使用*小容量為 130μL 的一次性電池進(jìn)行測量,可實現(xiàn)高精度 Zeta 電位測量。 此外,在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi),可以進(jìn)行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
      • [通過光散射評估物理性能在 ELSZneo 中進(jìn)入一個新的階段] 除了在 ELSZseries 的**型號上用稀釋溶液到濃縮溶液測量 Zeta 電位和顆粒直徑外,該裝置還允許分子量測量。 作為一項新功能,我們采用了多角度測量,以提高顆粒大小分布的分離能力。 此外,還可以進(jìn)行顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。 新開發(fā)的 Zeta 電位平板電池單元采用新開發(fā)的高鹽濃度涂層,可在高鹽濃度環(huán)境中(如鹽水)進(jìn)行測量。 我們還推出了超微量電池單元,可在 3μL 下測量顆粒大小,為生命科學(xué)領(lǐng)域擴(kuò)展了可能性。
      • 自1953年銷售以來,無論是在科研領(lǐng)域、生產(chǎn)現(xiàn)場,還是在品質(zhì)管理等各類需要測定粘度的場所,B-II型粘度計都是客戶的愛用機(jī)型,也是粘度計的代表機(jī)型。 特點 ◆ 擁有從低粘度至高粘度的寬廣測定量程 ◆ 接觸液體部分的材料是SUS304/303型不銹鋼 ◆ 適合測定非牛頓型液體的流動特征 ◆ 輝煌的銷售業(yè)績蓄積了豐富的專業(yè)知識和經(jīng)驗
      • 除了常規(guī)的 zeta 電位和粒度測量外,它是一種可以測量分子量的設(shè)備,可通過稀溶液至濃溶液進(jìn)行測量。 支持粒度測量范圍(0.6 nm 至 10 μm)和濃度范圍(0.00001% 至 40%)??梢允褂?小容量為 130 μL 或更大的一次性樣品池進(jìn)行測量,通過實際測量電滲流來實現(xiàn)高精度的 zeta 電位測量。 此外,通過在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行自動溫度梯度測量,可以進(jìn)行變性/相變溫度分析。
      • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數(shù)) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)(紫外至近紅外) 區(qū)域傳感器的**機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots

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