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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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塔瑪薩崎電子代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-9800

多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。光譜測量可在 5 毫秒內進行。標準儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
江蘇代理Otsuka大塚電子多通道光譜儀RETS-100nx

它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。實現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現高精度測量。
代理Otsuka大塚靜態(tài)光散射光度計 SLS-6500HL

特點使用靜態(tài)光散射法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第二維系數是可能的。可以對 Zimm 繪圖、伯利圖、Zimm 平方根圖、單濃度圖和 Debye 圖進行各種分析。系統(tǒng)將詢問您如何安排您的會議。可選的桿單元支架可實現光纖材料（散裝）的優(yōu)良散射強度測量。
代理Otsuka大塚動態(tài)光散射光度計 DLS-6500series

使用動態(tài)光散射方法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）是可能的。您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。相關計高達 4096ch，可實現多模式分析，如聚合物濃縮溶液。與可選的凝膠旋轉單元結合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
蘇州代理Otsuka大塚動態(tài)光散射光度計 DLS-8000series

特點使用動態(tài)光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態(tài)光散射方法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第二維真實系數。您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。采用浸入式細胞光學系統(tǒng)，可以高精度地測量微弱散射的納米級粒子。相關計高達 4096ch，可實現多模式分析，如聚合物濃縮溶液。與可選的凝膠旋轉單元結合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
代理Otsuka大塚小角激光散射儀PP-1000

散射角度為0.33~45°的測量*短為10msec※可以測量評估亞微米至數百微米的結構使用專用電池測量溶液樣品在軟式 Hv 散射和 Vv 散射測量中輕松切換桌面類型，可安裝在實驗室中 ※不使用HDR功能時
蘇州代理Otsuka大塚納米SAQLA

一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量自動調整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現約 1 分鐘的高速測量簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可開始測量），無需復雜的操作內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔，每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。配備溫度梯度功能，可輕松設置溫度
Otsuka大塚多樣品納米顆粒直徑測量系SAQLA

■納米SAQLA的特點一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量自動調整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現約 1 分鐘的高速測量簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可開始測量），無需復雜的操作內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔，每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。配備溫度梯度功能，可輕松設置溫度
代理Otsuka大塚顆粒尺寸分子量測量 ELSZ-2000S

特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量增加了廣泛的分子量測量和分析功能支持懸浮高濃度樣品的顆粒尺寸測量
蘇州代理Otsuka大塚澤塔電位測量系統(tǒng) ELSZ-2000Z

特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
蘇州塔瑪薩崎代理Otsuka大塚澤塔電位ELSZ-2000ZS

特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量增加了廣泛的分子量測量和分析功能支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測量通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
代理Otsuka大塚澤塔電位ELSZneo

從稀釋到濃縮的溶液（~40%）*1可在廣泛的濃度范圍內測量顆粒大小和 Zeta 電位多角度測量可實現高分離粒徑分布的測量可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位使用靜態(tài)光散射法測量顆粒濃度動態(tài)光散射法可實現微流變測量通過多點測量凝膠樣品，可以評估凝膠的網狀結構和異質性標準流單元可連續(xù)測量顆粒大小和 Zeta 電位可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量溫度梯度功能允許蛋白質的變性和相變溫度分析通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流可安裝熒光切割過濾器（可選）
塔瑪薩崎Otsuka大塚分析儀器

使用單個設備分析不同的成分，如陽離子和陰離子。微量樣品可實現短時間、高分辨率的分析。
塔瑪薩崎Otsuka大塚光譜輻射計

評估光源在紫外區(qū)域的輻射強度。 ? 通過光譜輻射測量高精度測量亮度，支持紫外、可見、紅外和廣泛的測量波長范圍，可實現光生物學**評估這是一個有限的設備，可以測量紫外線的亮度。
塔瑪薩崎光譜儀

評估紫外 LED 的輻射束。 ? 高性能紫外 LED 的輸出評估與溫度控制單元結合使用時，溫度評估支持紫外線 LED 的光學特性評估，預計這些特性是**、凈化和樹脂固化。
塔瑪薩崎Otsuka大塚測量儀器

基于與 NIMS 共同開發(fā)的單粒子診斷方法進行測量。* ? 與國家材料科學研究所研究員高崎正彥和武田高富史合作

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