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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
■納米SAQLA的特點(diǎn)
一臺(tái)儀器可輕松連續(xù)測(cè)量
5 個(gè)樣本，無需自動(dòng)采樣器即可實(shí)現(xiàn)
多個(gè)樣本的連續(xù)測(cè)量，也可以通過改變每個(gè)樣本的條件進(jìn)行測(cè)量。
支持從稀釋到厚系統(tǒng)
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間 1 分鐘的高速測(cè)量
自動(dòng)調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測(cè)量位置，實(shí)現(xiàn)約 1 分鐘的高速測(cè)量
簡(jiǎn)單易懂的測(cè)量功能（只需單擊一下即可
開始測(cè)量），無需復(fù)雜的操作
內(nèi)置非浸沒式細(xì)胞塊，無分包的無孔，
每個(gè)細(xì)胞都是獨(dú)立的，因此無需擔(dān)心不成問題。
配備
溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
詳情介紹：
手勢(shì)
| 類型表達(dá)式 | 多樣品納米顆粒直徑測(cè)量系統(tǒng) |
| 測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
| 光源 | 大功率半導(dǎo)體激光器（660nm，70mW） *1 |
| 探測(cè)器 | 高靈敏度 APD |
| 連續(xù)測(cè)量 | *多 5 個(gè)樣本 |
| 測(cè)量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
| 濃度范圍 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 溫度范圍 | 0 至 90°C（帶溫度梯度功能） *3 |
| 樣品容量 | 角單元：1.2mL~，微量單元：20μL~ |
| 大小 | W240 X D480 X H375 mm |
| 功耗 | AC 100～240V 50/60Hz、250VA |
| 重量 | 約 18 千克 |
| 軟件 | 平均顆粒直徑分析（庫(kù)姆蘭特方法） |
|
粒子大小分布分析 （馬夸德特/繼續(xù)/NNLS/統(tǒng)一方法） |
|
| 粒度分布重疊寫入 | |
| 反向相關(guān)函數(shù)和殘差圖 | |
| 顆粒大小監(jiān)測(cè)器 | |
| 顆粒尺寸顯示范圍（0.1 至 10）6 nm） | |
| 分子量計(jì)算器 | |
| 21 CFR 第 11 部分 *4 | |
| 選項(xiàng) | 微量細(xì)胞（從20μL起），熒光切割濾光片 |
*1 本設(shè)備是激光**標(biāo)準(zhǔn) （JIS C6802） 第 1 類產(chǎn)品
*2 PS Latex 顆粒：0.00001 至 10%，?；撬幔簙40%
*3 使用卡拉斯塞爾與貼片細(xì)胞支架。
使用 5 聯(lián)電池座或分配器時(shí)為 15 至 40°C
*4 選項(xiàng)
| 類型表達(dá)式 | 自動(dòng)采樣器 AS50 |
| 測(cè)量范圍 | 3nm ～ 10μm |
| 濃度范圍 | 0.001 ～ 40% |
| 溫度范圍 | 15 ～ 40℃ |
| 連續(xù)測(cè)量 | *多 50 個(gè)樣本 |
| 樣品容量 | AS 電池 0.4mL ~ |
| 大小 |
W240 X D480 X H275 mm （nanoSAQLA+AS50：W480 X D480 X H375 mm） |
| 重量 |
12 kg （nanoSAQLA+AS50：30kg） |
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