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Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計(jì)離線型該設(shè)備可離線輕松進(jìn)行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。整個(gè)表面可以快速、高精度地測量。
Otsuka大塚電子在線膜厚測量厚度計(jì)

Otsuka大塚電子在線膜厚測量厚度計(jì)塔瑪薩崎電子代理銷售該裝置可以測量薄膜的整個(gè)寬度和總長度，用于在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場。通過將新開發(fā)的高精度薄膜厚度計(jì)算技術(shù)與專有光譜干涉方法相結(jié)合，可以在每 0.01 秒的測量間隔內(nèi)測量 500mm 寬度（使用一臺）的薄膜厚度。
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江蘇代理Otsuka大塚單元間隙檢查裝置 RETS series 支持從反射型和透射型液晶封裝單元到帶濾色器的空單元的各種應(yīng)用
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Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設(shè)備它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進(jìn)行測量。此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測量。
代理Otsuka大塚電子光纖光譜儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理Otsuka大塚電子光纖光譜儀MCPD-9800/MCPD-6800
江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計(jì)

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計(jì) OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進(jìn)行**反射率測量，可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無損或非接觸式測量。測量時(shí)間可以高速測量 1 秒/點(diǎn)。此外，它配備了一個(gè)軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
OTSUKA大塚電子高靈敏度光譜輻射計(jì)HS-1000

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塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800

塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測量和分析的基本系統(tǒng)。即時(shí)測量光譜，自由組裝測量光學(xué)系統(tǒng)和多種選項(xiàng)，可根據(jù)各種目的進(jìn)行系統(tǒng)升級。測量波長范圍有四種類型可供選擇。

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