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產品名稱：Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
產品型號： FE-300薄膜類型
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型

詳情介紹：

膜厚計FE-300

它是一種緊湊且低成本的膜厚計，可以通過高精度光學干涉法輕松測量膜厚。
我們采用了一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，從而實現了穩(wěn)定的數據采集。
通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學常數。

產品資訊
原理
規(guī)范
設備配置

產品資訊

特殊長度

支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
使用反射光譜進行膜厚分析
緊湊且價格低廉，實現了非接觸，無破壞的高精度測量
簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
使用峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優(yōu)化法等，可以進行多種膜厚測量。
通過非線性*小二乘法的膜厚分析算法，可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。

測量項目

**反射率測量
膜厚分析（10層）
光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）

測量目標

功能膜，塑料
透明導電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護膜，硬質大衣，防指紋等
半導體
化合物半導體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍寶石等。
表面處理
DLC涂層，防銹劑，防霧劑等
光學材料
濾鏡，增透膜等
FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封劑）等
其他
硬盤，磁帶，建筑材料等

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膜厚計FE-300

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