它是一種緊湊且低成本的膜厚計(jì),可以通過高精度光學(xué)干涉法輕松測(cè)量膜厚。 我們采用了一體式外殼,將必要的設(shè)備容納在主體中,從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低廉的價(jià)格獲得**反射率,可以分析光學(xué)常數(shù)。
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