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      • 國(guó)內(nèi)總代KOSAKA小坂微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)臺(tái)階儀ET8000可以高精度自動(dòng)測(cè)量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。
      • 國(guó)內(nèi)總代全新KOSAKA小坂ET4000M微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)臺(tái)階儀 蘇州有售這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性,是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇,以滿足您的應(yīng)用需求。
      • 國(guó)內(nèi)總代KOSAKA 臺(tái)階儀探針接觸輪廓儀微細(xì)測(cè)定ET4000L 蘇州有售這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性,是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇,以滿足您的應(yīng)用需求。
      • 國(guó)內(nèi)總代KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A 蘇州有售這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性,是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇,以滿足您的應(yīng)用需求。
      • 國(guó)內(nèi)總代 KOSAKA小坂膜厚儀探針接觸式臺(tái)階儀ET200A-3D能**可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號(hào)探針,提供了通過(guò)過(guò)程控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì),可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài),更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。
      • 國(guó)內(nèi)總代KOSAKA探針接觸式臺(tái)階儀 2/3 維表面粗度ET200A-D。它是2D表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇,可實(shí)現(xiàn)高精度,高分辨率和出色的穩(wěn)定性,并且還支持測(cè)量力小的軟樣品表面。
      • 國(guó)內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺(tái)階儀微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)ET200AET200A 能**可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號(hào)探針,提供了通過(guò)過(guò)程控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì),可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài),更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。
      • 蘇州總代KOSAKA全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī)臺(tái)階儀ET8000這款可以高精度自動(dòng)測(cè)量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。全自動(dòng)用于測(cè)量大型工件。 *大樣本量2200×2600毫米,測(cè)量范圍X:10毫米 Y:10毫米
      • 江蘇供應(yīng)日本小坂臺(tái)階儀ET-4000M全新這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性,是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇,以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A: 多功能全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī)ET4000L: 全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī),可處理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形測(cè)量機(jī)
      • 國(guó)內(nèi)總代ET4000L全新日本小坂KOSAKA臺(tái)階儀 這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性,是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇,以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A: 多功能全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī)ET4000L: 全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī),可處理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形測(cè)量機(jī)
      • 國(guó)內(nèi)總代KOSAKA多功能全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī)臺(tái)階儀ET4000A這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性,是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇,以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A: 多功能全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī)ET4000L: 全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī),可處理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形測(cè)量機(jī)
      • 國(guó)內(nèi)總代小坂臺(tái)階儀膜厚探針接觸式高度ET200A-3D 它是2D表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇,可實(shí)現(xiàn)高精度,高分辨率和出色的穩(wěn)定性,并且還支持測(cè)量力小的軟樣品表面。ET200A:表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇ET200A-D:配備電動(dòng)Y軸單元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和階躍差測(cè)量的理想選擇
      • 總代小坂臺(tái)階儀kosakalab微小形狀測(cè)量機(jī) ET200A-D 它是2D表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇,可實(shí)現(xiàn)高精度,高分辨率和出色的穩(wěn)定性,并且還支持測(cè)量力小的軟樣品表面。ET200A:表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇ET200A-D:配備電動(dòng)Y軸單元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和階躍差測(cè)量的理想選擇
      • 國(guó)內(nèi)總代臺(tái)階儀ET200A 小坂Kosaka膜厚測(cè)量?jī)x探針表面輪廓 它是2D表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇,可實(shí)現(xiàn)高精度,高分辨率和出色的穩(wěn)定性,并且還支持測(cè)量力小的軟樣品表面。ET200A:表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇ET200A-D:配備電動(dòng)Y軸單元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和階躍差測(cè)量的理想選擇
      • FP3030小坂研究所(KOSAKA)是于1950年創(chuàng)立,日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì),具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析,有半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。
      • FP系列小坂研究所(KOSAKA)是于1950年創(chuàng)立,日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì),具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析,有半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。

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