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KOSAKA小坂高精度自動(dòng)測(cè)量樣品臺(tái)階儀ET8000

株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門。其中測(cè)定部門為具代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)占有一席無(wú)法被取代的地位 ET4000M???合理、高性能的通用微形測(cè)量機(jī)KOSAKA小坂高精度自動(dòng)測(cè)量樣品臺(tái)階儀ET8000國(guó)內(nèi)總代
日本總代理KOSAKA小坂ET4000M臺(tái)階儀

日本**代理KOSAKA小坂ET4000M臺(tái)階儀這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺(tái)階儀國(guó)內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。此外，您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī) ET4000L?可處理大尺寸的全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī) ET4000M???合理、高性能的通用微形測(cè)量機(jī)
代理KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000L臺(tái)階儀

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KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺(tái)階儀

這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺(tái)階儀國(guó)內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。此外，您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī) ET4000L?可處理大尺寸的全自動(dòng)微形測(cè)量機(jī) ET4000M???合理、高性能的通用微形測(cè)量機(jī)
小坂臺(tái)階儀膜厚儀探針接觸式ET200A-3D

小坂臺(tái)階儀膜厚儀探針接觸式ET200A-3D國(guó)內(nèi)總代它是2D表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測(cè)量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇 ET200A-D：配備電動(dòng)Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測(cè)量的理想選擇
KOSAKA小坂微細(xì)形狀2D/3D表面粗糙度臺(tái)階儀ET200A-D

Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺(tái)階儀總代它是2D表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測(cè)量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇 ET200A-D：配備電動(dòng)Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測(cè)量的理想選擇
Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺(tái)階儀總代

Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺(tái)階儀總代它是2D表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測(cè)量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測(cè)量的理想選擇 ET200A-D：配備電動(dòng)Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測(cè)量的理想選擇
KOSAKA小坂高精度測(cè)量樣品尺寸臺(tái)階儀ET8000

華東總代KOSAKA小坂高精度測(cè)量樣品尺寸臺(tái)階儀ET8000 可以高精度自動(dòng)測(cè)量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。
總代供應(yīng)日本小坂臺(tái)階儀ET-4000M江蘇

華東總代 KOSAKA臺(tái)階儀ET-4000M薄膜測(cè)厚儀這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。此外，您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
ET4000L臺(tái)階儀探針接觸輪廓儀微細(xì)機(jī)

華東總代 KOSAKA臺(tái)階儀ET4000L薄膜測(cè)厚儀這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。此外，您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
華東總代 KOSAKA臺(tái)階儀ET4000薄膜測(cè)厚儀

華東總代 KOSAKA臺(tái)階儀ET4000薄膜測(cè)厚儀這款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。此外，您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
小坂膜厚儀探針接觸臺(tái)階高度儀ET200A-3D

國(guó)內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺(tái)階儀微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)ET200A-3D 能**可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號(hào)探針，提供了通過(guò)過(guò)程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。
探針接觸臺(tái)階儀ET200A-D二三維表面粗度

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日本小坂KOSAKA 臺(tái)階儀微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)ET200A

國(guó)內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺(tái)階儀微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)ET200AET200A 能**可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號(hào)探針，提供了通過(guò)過(guò)程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。
江蘇總代FP3030 KOSAKA小坂臺(tái)階儀細(xì)孔測(cè)量機(jī)

江蘇總代FP3030 KOSAKA小坂臺(tái)階儀細(xì)孔測(cè)量機(jī)*小測(cè)量孔直徑 φ10μm~/ *大測(cè)量長(zhǎng)度300×300×300微米/測(cè)量分辨率10納米/測(cè)量力 0.1μN(yùn)以下/移動(dòng)軸（X，Y，Z）305×370×52毫米/*大樣本量φ300毫米 T=50毫米
華東總代KOSAKA小坂臺(tái)階儀FP-Labo 細(xì)孔測(cè)量機(jī)

華東總代KOSAKA小坂臺(tái)階儀FP-Labo 細(xì)孔測(cè)量機(jī)*小測(cè)量孔直徑φ10μm~*大測(cè)量長(zhǎng)度300×300×300微米/測(cè)量分辨率10納米/測(cè)量力 0.1μN(yùn)以下/移動(dòng)軸（X，Y，Z）50×50×52毫米/*大樣本φ160毫米 T=50毫米

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