總代無錫供應(yīng)日本HORIBA堀場AFM光學(xué)工作站OmegaScope 國內(nèi)各區(qū)域供應(yīng)

拉曼激光和AFM反饋激光相互無干擾

1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光（364-830 nm）毫無相互干擾，并且消除了對可見光敏感生物和光伏樣品的任何寄生影響。

拉曼激光直達懸臂

OmegaScope系統(tǒng)將AFM和光學(xué)通道完全分離。這種獨立性不限制拉曼激光所需的波長，與AFM激光通過與拉曼激發(fā)激光相同的高孔徑物鏡的系統(tǒng)相比，簡化了整個系統(tǒng)的調(diào)節(jié)。用戶可以輕松地重新聚焦高NA物鏡，而無需對AFM激光器進行任何額外的重新調(diào)整。OmegaScope的設(shè)計為原子力顯微鏡提供了更高的穩(wěn)定性，降低了對震動和噪聲的靈敏性。

簡單、快速、可重復(fù)的懸臂調(diào)整

采用固定式AFM激光器的設(shè)計，激發(fā)激光對懸臂梁針尖的調(diào)節(jié)，簡單快捷。此外，如果安裝相同類型的新懸臂，就可以很容易地找到和掃描樣品表面上的相同區(qū)域（在幾微米的重復(fù)性范圍內(nèi)），而無需任何額外的搜索。

自動AFM登記系統(tǒng)調(diào)整

SmartSPM掃描探針顯微鏡是OmegaScope系統(tǒng)反射式機構(gòu)的配置核心，也是**臺從設(shè)計到耦合HORIBA光譜儀的采用激光-懸臂-光電二極管全自動準直的掃描探針顯微鏡。

快速掃描

采用業(yè)界*高的高共振頻率掃描器（XY>7kHz和 Z>15kHz），優(yōu)化的掃描器控制算法可以輕松實現(xiàn)快速掃描。

振動穩(wěn)定性，聲學(xué)穩(wěn)定性，高頻的快速掃描器

快速響應(yīng)時間，低漂移和量值溯源。采用業(yè)界*好的平板閉環(huán)掃描器，掃描范圍為100μmx100μmx15μm，單個掃描器可以實現(xiàn)大范圍測量到真正的分子分辨率成像。歸功于掃描器和整個原子力顯微鏡的高機械剛度，即使沒有主動減震保護，也可以保證OmegaScope杰出性能。這些獨特的特性還允許實現(xiàn)特殊和更復(fù)雜的掃描算法，如Top模式。在這種模式下，針尖在掃描點之間被提升到樣品表面上方。在每一個掃描點，探針都會回到樣品表面。掃描信號在針尖振蕩幅度達到設(shè)定閾值后立即測量。它可以避免任何橫向力的相互作用，例如保證TERS探針的**性，同時保持掃描率高達1Hz。

輕松更換樣品

OmegaScope AFM平臺設(shè)計允許在不取下FM頭和懸臂支架的情況下更換樣品。它大大提高了實驗的可靠性，避免了操作人員在這類常規(guī)過程中可能出現(xiàn)的錯誤。

頂部和側(cè)向光路照明

頂部和側(cè)向的光學(xué)通道均可進入針尖-樣品區(qū)，充分利用紅外、可見光和紫外高NA平消色差物鏡光譜成像能力（頂部物鏡：高達0.7NA；側(cè)向物鏡：高達0.7NA）和原子力顯微鏡相關(guān)技術(shù)，可在寬光譜范圍和*小激發(fā)激光光斑面積內(nèi)，對樣品表面的光信號進行共焦檢測。側(cè)向光路在TERS和TEPL實驗中的成功歸功于OmegaScope系統(tǒng)設(shè)計的合理性，它提供了更重要的電磁場的軸向分量，有效地激發(fā)了針尖-樣品結(jié)中的等離激元共振。

頂部和側(cè)向物鏡掃描器

為了使AFM針尖和拉曼激光束完全對準，平板閉環(huán)XYZ物鏡掃描器可以安裝在頂部、側(cè)向和底部。此外，這種解決方案提供了盡可能高的分辨率、長期穩(wěn)定性和對準自動化，加上更寬的光譜范圍，盡可能少的輸入/輸出系統(tǒng)中的光學(xué)元件，從而大大減少了有用光信號的損失。

鎖相環(huán)控制的內(nèi)置DFM測量

動態(tài)力顯微鏡（DFM）模式是OmegaScope系統(tǒng)的標準配置。利用控制器內(nèi)置的鎖相環(huán)（PLL）電路，設(shè)計了一種適用于該模式的調(diào)頻（FM）檢測器。使用DFM可以可靠地保持*小的針尖-樣品相互作用（即在吸引力區(qū)域內(nèi)成像），這對于成功的TERS和掃描近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）實驗來說是非常關(guān)鍵的。

STM、導(dǎo)電AFM和SNOM選項

與光譜測量同時，OmegaScope可以配備獨特的模塊，使用該模塊可以測量AFM或STM中三個線性范圍（1nA、100nA和10uA）的局部電流。這些范圍可以在軟件中切換，其中每個范圍所需的帶寬可以從100Hz到7kHz進行選擇。在1na和1300nm原子力顯微鏡激光的測量范圍內(nèi)，60fA的導(dǎo)電模塊噪聲級為光電領(lǐng)域的導(dǎo)電性測量樹立了新的標準。

除了OmegaScope平臺的特殊靈活性之外，還提供了基于音叉反饋設(shè)計的SNOM。除了標準的SNOM實驗外，您還可以遵循經(jīng)典的納米光學(xué)，特別是無光闌SNOM，使用具有適當(dāng)偏振的飛秒激光脈沖照明的金屬針尖進行近場熒光成像。