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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
HORIBA堀場(chǎng)為了滿足 RoHS/ELV 測(cè)試和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以來(lái)，全球已有 1000 臺(tái)儀器用于這些應(yīng)用，以滿足客戶在不切割樣品的情況下分析樣品的關(guān)鍵需求。2012 年，HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀，在很短的時(shí)間內(nèi)變得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K
詳情介紹：
HORIBA堀場(chǎng) 株式會(huì)社MESA-50K X射線熒光分析儀塔瑪薩崎電子江蘇銷售
HORIBA堀場(chǎng) 株式會(huì)社MESA-50K X射線熒光分析儀塔瑪薩崎電子浙江銷售
HORIBA堀場(chǎng) 株式會(huì)社MESA-50K X射線熒光分析儀塔瑪薩崎電子上海銷售
HORIBA堀場(chǎng) 株式會(huì)社MESA-50K X射線熒光分析儀塔瑪薩崎電子山東銷售
HORIBA堀場(chǎng) 株式會(huì)社MESA-50K X射線熒光分析儀塔瑪薩崎電子安徽銷售
MESA-50K
X射線熒光分析儀
為了滿足 RoHS/ELV 測(cè)試和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以來(lái)，全球已有 1000 臺(tái)儀器用于這些應(yīng)用，以滿足客戶在不切割樣品的情況下分析樣品的關(guān)鍵需求。 2012 年，HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀，在很短的時(shí)間內(nèi)變得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無(wú)需液氮的精密檢測(cè)器，As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。
1. 快速
- 硅漂移檢測(cè)器(SDD) 大幅度減少了測(cè)量時(shí)間，在高通量的同時(shí)提供了更高的靈敏度
2. 小巧
- 便攜、體積小、重量輕
- 內(nèi)部電池供電
3. 簡(jiǎn)單
- 減少日常維護(hù)工作（無(wú)需液氮）
- 無(wú)需真空泵
- 各種材料測(cè)量直觀簡(jiǎn)單
4. 智能
- 英文/日文/中文多語(yǔ)言操作界面
- Excel數(shù)據(jù)管理工具
5. **
- 無(wú)需擔(dān)心 X 射線泄漏
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