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產(chǎn)品中心

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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚線掃描膠片測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚線掃描膠片測厚儀OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統(tǒng) ELSZneo

詳情介紹：

產(chǎn)品信息

特征

采用線掃描方式實現(xiàn)無“遺漏”的全表面薄膜檢測
可由專門從事薄膜厚度測量的制造商提供的**支持
高速高精度測量
使用抗顫振的光學系統(tǒng)
寬樣品（TD 方向可達 10 m）
硬件和軟件的原始設計

探測器可根據(jù)薄膜寬度進行擴展（*大10m）
即時分析500mm薄膜厚度數(shù)據(jù)，實現(xiàn)全寬測量。

規(guī)范

薄膜厚度范圍	0.7~300微米
測量寬度	500 mm~*大 10 m
測量間隔	10毫秒~
設備尺寸（寬×深×高）	81×140×343 毫米
重量	4 公斤（僅頭部）
*大功耗	交流100 V±10% 125VA

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚 線掃描膠片測厚儀

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚線掃描膠片測厚儀