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產品名稱：線掃描測厚儀離線式 Otsuka大冢
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

是一種可以方便地離線檢測面內膜厚不均勻性的設備，用于膜的研發(fā)和質量控制的抽檢。可以高速且高精度地測量整個表面。

詳情介紹：

可檢測薄膜等面內膜厚不均
可以高速高精度地測量整個表面
只有專門從事膜厚測量的制造商才能提供的**支持
通過光譜測量進行高精度膜厚測量
硬件和軟件的原創(chuàng)設計

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產品名稱：線掃描測厚儀離線式 Otsuka大冢