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    1. 產(chǎn)品中心
      產(chǎn)品詳情
      • 產(chǎn)品名稱:超快光譜干涉式測厚儀Otsuka大冢

      • 產(chǎn)品型號:
      • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
      • 產(chǎn)品價格:0
      • 折扣價格:0
      • 產(chǎn)品文檔:
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      簡單介紹:
      它以非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程,具有超高速、實時和高精度的晶片和樹脂。
      詳情介紹:
      • 可進行非接觸式、非破壞性厚度測量
      • 折反射系統(tǒng)(可以從一側(cè)接觸測量)
      • 高速(*大速度 5kHz)和實時評估成為可能
      • 實現(xiàn)高穩(wěn)定性(重復精度 0.01% 以下)
      • 抗粗糙性強
      • 可以處理任何距離
      • 支持多層結(jié)構(gòu)(*多5層)
      • 內(nèi)置NG數(shù)據(jù)排除功能
      • 可進行距離(形狀)測量(內(nèi)置傳感器選件
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