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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備
產(chǎn)品型號：RE-200
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200

詳情介紹：

低相位差高速檢查設(shè)備　RE-200

低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200 光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02°
低相位差測量

產(chǎn)品信息

特點

? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當(dāng)于世界*快速的0.1秒以下來處理）
? 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高
? 設(shè)置的測量項目少，測量簡單
? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機(jī)組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）

測量項目

? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
? 主軸方位角（θ[deg.]）
? 橢圓率（ε）?方位角（γ）
? 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

? 什么是RE-200
? RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

仕　樣

型號	RE series
樣品尺寸	小10×10mm ～大100×100mm
測量波長	550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1
相位差測量范圍	約0nm ～約1μm
軸檢出重復(fù)精度	0.05°（at 3σ） ※2
檢出器	偏光計測模塊
測量光斑直徑	2.2mm×2.2mm
光源	100W 鹵素?zé)艋?LED光源
本體?重量	300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg

Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）

? 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具

株式會社タマサキ精密測定機(jī)器の総合商社
香港玉崎有限公司
深圳市京都玉崎電子有限公司
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地址：江蘇省蘇州市高新區(qū)濱河路588號賽格電子市場B座708室
電話：(+86)0512-67089211

手機(jī)：(+86)15902189399

郵箱：suz@tamasaki.com
網(wǎng)址：http://www.ktts.net
營業(yè)部：黃羅龍

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產(chǎn)品名稱：日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備

低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200

低相位差高速檢查設(shè)備　RE-200