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    90. 產(chǎn)品詳情
      • 產(chǎn)品名稱:OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50

      • 產(chǎn)品型號:RH50
      • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
      • 產(chǎn)品價格:0
      • 折扣價格:0
      • 產(chǎn)品文檔:
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      簡單介紹:
      RH50 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 對應(yīng)微LED等微小樣品的配光測定系統(tǒng)RH50.。 與光學(xué)模擬軟件的聯(lián)合是可能的,可以簡單地高速取得2π空間全方位的光線。50×50mm尺寸以上請看GP-7 series。OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50
      詳情介紹:

      RH50
         OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)

      對應(yīng)微LED等微小樣品的配光測定系統(tǒng)RH50.。
      與光學(xué)模擬軟件的聯(lián)合是可能的,可以簡單地高速取得2π空間全方位的光線。50×50mm尺寸以上請看GP-7 series。

      特 長

      ·這臺機(jī)器可以與光學(xué)模擬軟件協(xié)作。
      ·超高速測定樣品本來的配光特性。*短17分鐘!
      ·容易花費(fèi)時間的樣品設(shè)置既簡單又簡單。
      ·因?yàn)闃悠吩陟o止?fàn)顟B(tài)下可以測定,所以點(diǎn)燈姿勢不變。
      節(jié)省空間的幻燈片,讓您在桌面上也能輕松工作

      サンプル設(shè)置がしやすい大開口
       

      ■ 光學(xué)シミュレーションソフトとの連攜が可能

      実測データを各種光學(xué)シミュレーションソフトで利用可能な形式にコンバートできます
      例えば、LightTools、ZEMAX、ASAP、TraceProなど
      ※LightTools、ZEMAX、ASAP、TraceProは、他社の商標(biāo)/trademarkです

      光線データ、光源とレンズによる効果をシミュレーション
      【 POINT 】 距離ごとの照度分布の違いをそれぞれ試作前に把握することができる

       

      ■ 超高速測定

      【お悩み】サンプル本來の詳細(xì)な配光特性を知りたいが、
      測定時間が長くなるので光線を間引いて測定していた

      【理想】間引かず測定→【現(xiàn)実】間引いた測定

      【RH50なら】 短時間で配光特性の詳細(xì)を知ることができる

      <従來> 2400分 →?。糝H50> 17分 約1/140短縮

      2π空間全方位の光線を取得(サンプル本來の配光特性を知ることが出來る)

       

      ■ かんたん位置合わせ

      數(shù)μmのズレでも自動ステージで楽々調(diào)整

      (従來)手動で調(diào)整のため手間 → (RH50)クリックするだけ

       

      ■ 測定時サンプル靜止

      検出器が2軸駆動で測定中にサンプルを動かさなくて良い機(jī)構(gòu)

      【 POINT 】
      ?破損のリスクなし
      ?斷線しない
      ?點(diǎn)燈位置が変動しない

      (従來)斷線や破損のリスク → (RH50)サンプルは動かさない

      仕 様
       型式  高速ニアフィールド配光測定システム RH50
       サンプル設(shè)置サイズ  直徑 50mm 以下
       測定エリア  50 × 50 mm
       裝置サイズ  W620 × D720 × H866 mm
       測定時間  17分 *1
       測定角度範(fàn)囲と間隔  X:±130°、Y:±90°、*小0.1°間隔
       検出器  二次元センサー(紫外、可視、近赤外タイプ)
       測定項(xiàng)目  紫外?近赤外タイプ:光線データ *2、配光 *2
       可視タイプ:輝度光線データ、配光、照度、光度、全光束

      *1:條件 X:±90°、Y:±90°、測定間隔 1°間隔で測定
      *2:相対強(qiáng)度によるデータ 

      マイクロLED測定例

      たった1回の測定であらゆる解析ができます

      任意の距離から見た輝點(diǎn)?減點(diǎn)が確認(rèn)できます。
      意図した光が出ているか、または意図していない光り方になっていないかが見てわかります。

      照度分布?3D配光特性?2D配光特性?相対輝度分布(正面)?相対輝度分布(ななめ45°)

      ニアフィールド配光測定とは

      複數(shù)の點(diǎn)ごとにデータが取得できるニアフィールド配光測定

      全方位の光線を取得。一回の測定で2π空間の光線を取得

      【ニアフィールド】面光源とみなして測定。発行點(diǎn)ごとに配光データがある。用途:製品開発用の工學(xué)設(shè)計 【ファーフィールド】點(diǎn)光源とみなして測定。配光データは1つ。用途:カタログデータ

       

      ニアフィールドとファーフィールドの比較表

      OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)RH50


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