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    90. 產(chǎn)品展示
      •  SF-3/300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì) 用非接觸的溫哈和樹(shù)脂的超高速實(shí)時(shí)、高精度的測(cè)量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/300
      •  SF-3/1300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì) 用非接觸的溫哈和樹(shù)脂的超高速實(shí)時(shí)、高精度的測(cè)量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/1300
      •  SF-3/BB OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì) 用非接觸的溫哈和樹(shù)脂的超高速實(shí)時(shí)、高精度的測(cè)量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/BB
      •  AT-1500 OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì) OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-1500
      • OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)
      •  AT-5000 OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì) OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-5000
      • OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì) 在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)能夠?qū)Ρ∧さ哪ず襁M(jìn)行全幅、全長(zhǎng)測(cè)量的裝置。 通過(guò)在獨(dú)自的分光干涉法中組合新開(kāi)發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù),以每*短0.01秒的測(cè)定間隔,可以進(jìn)行500mm寬(1臺(tái)使用時(shí))的薄膜的膜厚測(cè)定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)
      •  FE-5000S OTSUKA大冢-分光器 除了能夠高精度的薄膜解析的分光中,通過(guò)實(shí)現(xiàn)測(cè)量角度的自動(dòng)可變機(jī)構(gòu),也對(duì)應(yīng)于所有種類(lèi)的薄膜。除以往的旋轉(zhuǎn)檢光子法之外,通過(guò)設(shè)置相位差版的自動(dòng)脫穿機(jī)構(gòu),提高了測(cè)定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000S
      •  FE-5000 OTSUKA大冢-分光器 除了能夠高精度的薄膜解析的分光中,通過(guò)實(shí)現(xiàn)測(cè)量角度的自動(dòng)可變機(jī)構(gòu),也對(duì)應(yīng)于所有種類(lèi)的薄膜。除以往的旋轉(zhuǎn)檢光子法之外,通過(guò)設(shè)置相位差版的自動(dòng)脫穿機(jī)構(gòu),提高了測(cè)定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000
      • OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器 OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器 高精度地實(shí)現(xiàn)具有波長(zhǎng)依存性的多層膜測(cè)量!
      • MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測(cè)定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測(cè)定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測(cè)定用多頻道分光器MCPD series
      • FE-300 OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器 是一種通過(guò)簡(jiǎn)單操作實(shí)現(xiàn)高精度光干涉法的膜厚測(cè)量的小型低價(jià)格的膜厚計(jì)。 采用將必要的機(jī)器收納在機(jī)身部位的一體化體型外殼,實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的獲取 通過(guò)獲取低價(jià)位的優(yōu)良反射率,也可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)的分析。OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300
      • FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計(jì) 利用顯微的微小領(lǐng)域的優(yōu)良反射率的取得,通過(guò)高精度的光干涉法的膜厚解析可能的裝置。 多種多樣的樣品的膜厚·光,除了半導(dǎo)體領(lǐng)域的圖案樣品、透鏡和鉆孔之類(lèi)的形狀樣品之外,還有表面粗糙度和膜厚不均的樣品。能夠進(jìn)行定數(shù)分析。OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計(jì)FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計(jì)FE-3000
      • OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM series
      • GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng) 是光源單體和光學(xué)材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng)GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng)GP-7series1000
      • GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng) 是光源單體和光學(xué)材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng)GP-7series600OTSUKA大冢-高速近場(chǎng)配光測(cè)量系統(tǒng)GP-7series600
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