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新聞詳情
日本Otsuka大塚電子株式會(huì)社|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司中國代理店
日期：2025-07-02 10:31
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摘要：
日本Otsuka大塚電子株式會(huì)社建立與1970年5月，主要事業(yè)內(nèi)容（一）科學(xué)儀器、光學(xué)儀器、醫(yī)療器械、工業(yè)測量儀器
及其零部件及其附件
的開發(fā)、制造、銷售、修理、進(jìn)出口。 （2）試劑的制造、銷售、進(jìn)出口 （三）支持醫(yī)療器械經(jīng)營許可證的取得和醫(yī)療器械
生產(chǎn)、上市許可申請(qǐng)
（4）科學(xué)儀器、光學(xué)儀器、 使用工業(yè)測量儀器進(jìn)行委托測量并提供數(shù)據(jù)
（5） 與前項(xiàng)相關(guān)的所有業(yè)務(wù)
繼續(xù)挑戰(zhàn)可能性的極限。 沒有限制。 克服它之后，一個(gè)巨大的世界正在蔓延。 大冢電子用技術(shù)用光解決世界問題。 這就是我們的使...
大冢電子以“大冢人創(chuàng)造新產(chǎn)品，改善全球健康”為企業(yè)理念，開發(fā)、制造和銷售醫(yī)學(xué)、測量、物理和化學(xué)領(lǐng)域的設(shè)備和設(shè)備，作為一家用光診斷事物的公司。
自 1970 年成立以來，我們一直在探索患者、醫(yī)療保健專業(yè)人員、公司和研究機(jī)構(gòu)真正在尋找什么，并一直在思考“只有大冢電子能做什么”和“只有大冢電子能做什么”來解決他們的需求。 我們充分利用“測量光的顏色和亮度、測量材料的形狀和厚度、測量顆粒的大小和檢查人們的健康”等光測量技術(shù)，創(chuàng)造了獨(dú)特的產(chǎn)品。
隨著世界各地人們的生活不斷變化，我們認(rèn)為，為了應(yīng)對(duì)這些變化并繼續(xù)提供更有價(jià)值的產(chǎn)品，我們的每一位員工都必須融入不同的思想和知識(shí)并相互認(rèn)可。 我們所有的員工都將接受挑戰(zhàn)，創(chuàng)造尚未被研究過的技術(shù)，沒有人設(shè)想過的技術(shù)。
我們將繼續(xù)以“與Hikari一起開創(chuàng)光明未來的公司”為愿景，以“通過利用光的分析技術(shù)支持全世界人民的健康和生活”為使命，創(chuàng)造和提供新的價(jià)值，為社會(huì)做出貢獻(xiàn)。
繼承大冢集團(tuán)的DNA“示范與創(chuàng)造”，我們每天都在努力實(shí)踐“只有大冢才能做到的”和“只有大冢能做到的”。 大冢電子將繼續(xù)通過**和創(chuàng)造性的產(chǎn)品（設(shè)備）和服務(wù)，在健康和生活領(lǐng)域支持世界各地人們的生活。
- ME設(shè)備
- 紅外光譜儀 POConePlus
- 分立式臨床生化分析儀 Hemotect NS-Prime
- 熒光**層析掃描儀 DiaScan α
- 血細(xì)胞去除系統(tǒng) Adamonitor SC
- 分析儀器
- Zeta 電位和粒度測量系統(tǒng) ELSZneoSE
- Zeta 電位、粒徑和分子量測量系統(tǒng) ELSZneo
- 多分析物納米粒度測量系統(tǒng)nanoSAQLA（帶自動(dòng)進(jìn)樣器AS50）
- 多分析物納米粒徑測量系統(tǒng)nanoSAQLA
- 聚合物相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)PP-1000
- 動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì) DLS-8000系列
- 動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì)DLS-6500系列
- 高靈敏度示差折光儀DRM-3000
- 毛細(xì)管電泳系統(tǒng) Agilent 7100
- 儀表
- 光波場三維顯微鏡 MINUK
- 顯微光譜涂層測厚儀 OPTM series
- 線掃描膜測厚儀®[直列式]
- 線掃描膜厚儀®[離線型]
- 多通道光譜儀 MCPD-9800/6800
- MCPD系列嵌入式測厚頭
- MCPD系列在線薄膜評(píng)估系統(tǒng)
- 延遲測量儀 RETS-100NX
- OPTM系列嵌入式頭型
- 光譜干涉晶圓測厚儀SF-3
- 涂層厚度監(jiān)測儀 FE-300F
- 內(nèi)置涂層厚度監(jiān)測儀
- 橢偏光譜儀 FE-5000 series
- 高靈敏度分光輻射計(jì) HS-1000
- 總光通量測量系統(tǒng) HM/FM series
- 分光光度測量系統(tǒng) GP series
- 光譜輻照度測量系統(tǒng)
- 量子效率測量系統(tǒng)QE-2100
- 高速LED光學(xué)特性監(jiān)測儀LE系列
- 彩色濾光片光譜分析儀 LCF series
- 電芯間隙檢測系統(tǒng) RETS series
- 高速延遲測量儀RE-200
- 高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng)QE-5000
- 用于透射率和吸光度測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD系列
- 用于反射測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD series
- 用于發(fā)光和熒光應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD系列
- 用于顏色測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD series
- 用于涂層厚度測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD系列
- 單顆粒熒光診斷系統(tǒng)
- 量子點(diǎn)評(píng)估系統(tǒng)
- 加載端口兼容膜厚測量系統(tǒng) GS-300
- 超快光譜干涉測厚儀
- 紫外分光總輻射通量測量系統(tǒng)
- 紫外光譜分布測量系統(tǒng)
- 紫外光譜輻照度測量系統(tǒng)
- 紫外光譜儀
