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      日本HORIBA堀場(chǎng)顆粒表征/激光粒度、納米粒度及Zeta電位、顆粒追蹤分析儀

      日期:2025-07-03 07:47
      瀏覽次數(shù):238
      摘要: 日本HORIBA堀場(chǎng)顆粒表征主要有激光粒度分析儀Partica LA-960V2//激光粒度分析儀Partica mini LA-350//納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000//納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2//Dynamic Image Analysis//ANALYSETTE 28 ImageSizer*//離心式粒度分析儀Partica CENTRIFUGE CN-300 激光粒度分析儀Partica LA-960V2 LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計(jì)**行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界,是LA系列儀器的突破性演變。 ...

      日本HORIBA堀場(chǎng)顆粒表征主要有激光粒度分析儀Partica LA-960V2//激光粒度分析儀Partica mini LA-350//納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000//納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2//Dynamic Image Analysis//ANALYSETTE 28 ImageSizer*//離心式粒度分析儀Partica CENTRIFUGE CN-300


      激光粒度分析儀Partica LA-960V2




      LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計(jì)**行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界,是LA系列儀器的突破性演變。



      LY-9610 圖像單元

      圖像分析測(cè)量范圍 9 - 1000 μm
      像素尺寸 0.73 μm
      拍照速度 ≧ 4 幀/秒
      功能 等效圓直徑直方分布圖;形狀參數(shù):縱橫比*、圓度*、長(zhǎng)度*、寬度*;等效圓直徑趨勢(shì)圖;捕獲圖像的后期分析(放大/縮小,測(cè)量尺寸)。

      激光粒度分析儀Partica mini LA-350


      HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價(jià)格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域?;贚A系列分析儀的先進(jìn)光學(xué)設(shè)計(jì),LA-350實(shí)現(xiàn)了高性能、易操作、低維護(hù)和高效益的優(yōu)點(diǎn)。LA-350體積小巧(297 mm x 420 mm),可以有效節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間。除此之外,LA-350巧妙的設(shè)計(jì)、高質(zhì)量的制造確保儀器操作方便、測(cè)量范圍寬 (0.1-1000 μm)和測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確。



      優(yōu)點(diǎn)

      • 操作靈活:通過(guò)更廣泛的尺寸范圍和靈活的軟件,輕松適應(yīng)不斷變化的測(cè)量需求。
      • 操作簡(jiǎn)單:通過(guò)軟件中的方法和操作序列可以實(shí)現(xiàn)一鍵操作。
      • 快速分析:快速測(cè)量和分析立即獲得測(cè)量結(jié)果。


      納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000



      ViewSizer 3000 使用納米顆粒追蹤分析技術(shù) (NTA) 的*新進(jìn)展來(lái)準(zhǔn)確確定顆粒屬性!

      粒徑測(cè)量范圍:10 nm- 15μm,具體范圍取決于樣品

      ViewSizer 通過(guò)多激光納米顆粒追蹤分析技術(shù) (NTA) 得到顆粒粒徑及粒徑分布。多個(gè)激光器可分析同一樣品中各種不同尺寸的顆粒,分辨率更高。

      濃度測(cè)量范圍:5 x 106 - 2 x 108 顆/mL

      NTA 可用于對(duì)測(cè)量體積中的顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)。該測(cè)量方法可校正粒徑對(duì)有效測(cè)量體積的影響。

      無(wú)交叉污染

      樣品池可完全拆卸,拆卸后清洗更方便徹底。拆卸、清潔和重新組裝比沖洗流通池更快。此外,配備多個(gè)樣品池可樣品測(cè)量通量,也可分配給共享(核心)設(shè)施中的各個(gè)小組

      納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2





      SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力,可快速確定納米顆粒的特性!

      • SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì),既可以測(cè)量高濃度的樣品,如漿體和染料;同時(shí)也可以用于測(cè)量低濃度樣品,如蛋白質(zhì)、聚合物等。
      • 使用單臺(tái)設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
      • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對(duì)其造成污染。樣品池容量(*低容量100 μL)小適用于稀釋樣品的分析。
      • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成,該材料不會(huì)受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。


      離心式粒度分析儀Partica CENTRIFUGE CN-300







      尺寸



      密度梯度溶液配制器(CY-301)

      密度梯度溶液配制器可用于幫助制備line-start模式測(cè)量所需的密度梯度溶液。放好比色皿按下按鈕后可在約 3 分鐘內(nèi)制備密度梯度溶液。



      蘇公網(wǎng)安備 32050502000409號(hào)