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KOSAKA小坂全自動(dòng)臺(tái)階儀ET200，ET4000
日期：2025-07-01 02:09
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摘要：KOSAKA小坂全自動(dòng)臺(tái)階儀ET200，ET4000：針對(duì)半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力分析--KOSAKA小坂臺(tái)階儀
KOSAKA小坂臺(tái)階儀，針對(duì)半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力分析，
株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立的公司，也是日本**家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門。其中測(cè)定部門為*具代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)占有一席無法被取代的地位。
全自動(dòng)臺(tái)階儀ET200
|
*大尺寸 |
φ160×厚48mm |
|
再現(xiàn)性 |
1σ 1nm以內(nèi) |
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測(cè)定范圍 |
Z：600μm X：100mm |
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分解能 |
Z：0.1nm X：0.1μm |
|
測(cè)定力 |
10μN(yùn)～500μN(yùn) |
全自動(dòng)臺(tái)階儀ET4000 Series
