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OTSUKA大塚電子（顯微分光膜厚儀）的性能特點(diǎn)
日期：2025-07-04 03:13
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摘要：
OTSUKA大塚電子（顯微分光膜厚儀）是一種高精度的薄膜厚度測(cè)試儀器。它基于薄膜光學(xué)理論，通過(guò)測(cè)量不同波長(zhǎng)下樣品反射和透射的光強(qiáng)比值，從而計(jì)算出樣品厚度。具有高靈敏度、高精度、非接觸式測(cè)量、快速測(cè)量等特點(diǎn)。
首先，顯微分光膜厚儀具有極高的靈敏度。它可以測(cè)量膜厚在幾納米至數(shù)百微米之間的樣品，且對(duì)于不同的材料也具有較好的適應(yīng)性。其次，該儀器具有高精度的特點(diǎn)。通過(guò)采用高精度的光路設(shè)計(jì)和數(shù)據(jù)處理算法，可以實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的準(zhǔn)確測(cè)量，測(cè)量誤差一般在1%以內(nèi)。此外，該儀器的非接觸式測(cè)量方式，不會(huì)對(duì)樣品造成物理?yè)p傷，具有較好的保護(hù)作用。
顯微分光膜厚儀還具有快速測(cè)量的特點(diǎn)。由于無(wú)需樣品預(yù)處理和其他復(fù)雜的操作步驟，測(cè)量速度相對(duì)較快。它能夠在幾秒到幾分鐘之間快速完成一次測(cè)量。該儀器在實(shí)際應(yīng)用中還具有較好的穩(wěn)定性和可靠性。經(jīng)過(guò)多次校準(zhǔn)和檢驗(yàn)，可以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
總之，顯微分光膜厚儀具有高靈敏度、高精度、非接觸式測(cè)量、快速測(cè)量等多種特點(diǎn)。它廣泛應(yīng)用于各種薄膜材料的研究和生產(chǎn)過(guò)程中。例如，光學(xué)薄膜、光學(xué)膜、半導(dǎo)體薄膜、涂層薄膜、生物醫(yī)學(xué)材料、塑料材料等領(lǐng)域，都具有非常廣泛的應(yīng)用前景。
