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otsukael大塚RETS-100光學相位差測量儀

日期：2025-07-03 14:14

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摘要：otsukael大塚從事分光儀、分光光度計、攝譜儀、理化分析儀器、裝置和其他測量或檢驗儀器、器具、機器商品（包含相應零部件、消耗品）的批發(fā)、進出口、傭金代理及相關配套業(yè)務等。

本設備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學系，測定透過型液晶面板面內的cellgap和預斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準備Recipe（測量條件File）所以Operator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現高精度測量。

相位差光學材料量

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)*適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，rets設備，展現任一個波長的高精度相位差量測。

光學薄膜

相位差膜、橢圓膜、相位差板

偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學資料

■液晶層

穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

反射型液晶層(TN，STN)

本裝置是photonic結晶偏光子arrayh和CCD camera構成的專用偏光計測模組和透過偏光光學系相結合進行測定橢圓率，rets-100測試儀，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進而演算其吸收軸，光軸，rets，相對角、RE的裝置。

本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN，rets相位差膜測試，IPS，MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準sample。

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