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    90. 產(chǎn)品詳情
      • 產(chǎn)品名稱:華東總代HORIBA XploRA Nano原子力拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

      • 產(chǎn)品型號(hào): XploRA Nano
      • 產(chǎn)品廠商:HORIBA堀場(chǎng)
      • 產(chǎn)品價(jià)格:0
      • 折扣價(jià)格:0
      • 產(chǎn)品文檔:
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      簡(jiǎn)單介紹:
      華東總代HORIBA XploRA Nano原子力拉曼聯(lián)用系統(tǒng)這是一套基于業(yè)界**的掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。XploRA Nano系統(tǒng),緊湊、全自動(dòng)、易于使用,這是一套已經(jīng)得到證實(shí)了的經(jīng)濟(jì)適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng),它幫助大家實(shí)現(xiàn)TERS成像。
      詳情介紹:

      華東總代HORIBA XploRA Nano原子力拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

      多樣品分析平臺(tái)

      宏觀、微觀和納米尺度的測(cè)量可以在同一個(gè)平臺(tái)上進(jìn)行

      簡(jiǎn)單易用

      全自動(dòng)操作,在幾分鐘內(nèi)即可開(kāi)始測(cè)量,而不是幾小時(shí)!

      真正的共聚焦

      高空間分辨率,自動(dòng)樣品臺(tái),全顯微鏡可視化。

      高收集效率

      頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測(cè)都可以獲得高分辨和高通量測(cè)量同區(qū)域和針尖增強(qiáng)光譜測(cè)量(TERS和TEPL)

      高光譜分辨率

      高光譜分辨能力,多光柵自動(dòng)切換,寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。

      高空間分辨率

      針尖增強(qiáng)的納米級(jí)光譜分辨率(優(yōu)于10nm)

      豐富的光學(xué)光譜(拉曼和光致發(fā)光)

      多技術(shù)/多環(huán)境

      結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導(dǎo)電和電學(xué)模式(cAFM、KPFM)、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境。一個(gè)工作站和強(qiáng)大的軟件即可對(duì)兩臺(tái)儀器進(jìn)行完全控制,SPM和光譜儀可以同時(shí)或獨(dú)立操作。

      堅(jiān)固性/穩(wěn)定性

      高共振頻率AFM掃描器,遠(yuǎn)離噪音干擾!高性能表現(xiàn),無(wú)需主動(dòng)隔振系統(tǒng)。

      martSPM掃描器和基座

      閉環(huán)平板掃描器: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)

      掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

      噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開(kāi));XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開(kāi))

      高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

      X, Y, Z自動(dòng)趨近:XYZ數(shù)字閉環(huán)控制,Z向馬達(dá)趨近距離18mm

      樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

      樣品定位:自動(dòng)樣品臺(tái)范圍:5 mm x 5 mm

      定位精度:1μm

      AFM測(cè)試頭

      激光波長(zhǎng):1300nm(光譜檢測(cè)器無(wú)干擾)

      激光準(zhǔn)直:全自動(dòng)懸臂—光電二極管激光準(zhǔn)直

      探針通道:為外部操作和探針提供自由通道

      SPM測(cè)量模式

      標(biāo)準(zhǔn)模式:接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側(cè)向力模式(LFM)、力調(diào)制模式、磁力顯微鏡模式(MFM)、開(kāi)爾文探針模式(表面電勢(shì),SKM,KPFM)、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式(EFM)、力曲線測(cè)量、壓電響應(yīng)模式(PFM)、納米蝕刻、納米操縱

      升級(jí)模式:溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導(dǎo)電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測(cè)量等

      光譜模式

      共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像

      針尖增強(qiáng)拉曼光譜(AFM,STM等)

      針尖增強(qiáng)熒光

      近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)

      導(dǎo)電力AFM(選購(gòu))

      電流范圍:100fA~10μA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 μA)

      光路耦合通道

      頂部和側(cè)向能夠同時(shí)使用消色差物鏡:從頂部或側(cè)向*高可用100X,NA0.7物鏡;可同時(shí)使用20倍和100倍

      長(zhǎng)期光譜激光穩(wěn)定對(duì)準(zhǔn)的閉環(huán)壓電物鏡掃描器:20μm x 20μm x 15μm;

      分辨率:1nm

      光譜儀

      全自動(dòng)緊湊型XploRA Plus顯微光譜儀,可獨(dú)立使用顯微拉曼光譜儀

      波長(zhǎng)范圍:75cm-1至4000 cm-1

      光柵:四光柵自動(dòng)切換(600, 1200, 1800 and 2400 g/mm)

      自動(dòng)化:全自動(dòng),軟件控制操作

      檢測(cè)器

      全光譜范圍CCD和EMCCD檢測(cè)器。

      光源

      典型波長(zhǎng):532nm、638nm、785nm;其它波長(zhǎng)可根據(jù)需求提供

      自動(dòng)化:全自動(dòng),軟件控制操作

      軟件

      集成軟件包,包括全功能SPM、光譜儀和數(shù)據(jù)采集控制、光譜和SPM數(shù)據(jù)分析和處理套件,包括光譜擬合、去卷積和濾波,可選模塊包括單變量和多變量分析套件(PCA、MCR、HCA、DCA),顆粒檢測(cè)和光譜搜索功能。


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