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產(chǎn)品中心

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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚超快光譜干涉儀測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚超快光譜干涉儀測厚儀

詳情介紹：

特征

非接觸式、非破壞性厚度測量
反射光學元件（可從一側接觸進行測量）
高速（*快5kHz）和實時評估
高穩(wěn)定性（重復精度0.01%以下）
耐粗糙
可在任何距離使用
支持多層結構（*多 5 層）
內(nèi)置NG數(shù)據(jù)抑制功能

特點1：用我們自己的技術

它支持廣泛的薄膜厚度范圍，并實現(xiàn)高波長分辨率。
大冢電子的獨特技術被封裝在一個緊湊的機身中。

特點2：高速響應

由于它甚至可以以**的間距進行測量，即使是移動的測量對象，
它也是工廠生產(chǎn)線的理想選擇。

特點3：與各種表面條件的樣品兼容

通過約φ20μm的微小光斑，即使在各種表面條件下也可以
測量厚度。

特點4：兼容各種環(huán)境

由于可以從*遠200 mm的距離進行測量，因此可以根據(jù)目的和應用構建
測量環(huán)境。

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