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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLA
產(chǎn)品型號(hào)：nanoSAQLA
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
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簡單介紹：

nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLA

詳情介紹：

nanoSAQLA

OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)

nanoSAQLA是由動(dòng)態(tài)光散射法（DLS法）的粒子直徑測(cè)量（粒子徑0.6nm～10μm）裝置。

還搭載了各種各樣追求品質(zhì)管理的需求的功能。

在稀薄～濃厚系為止在廣濃度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了多檢體測(cè)量對(duì)應(yīng)的新光學(xué)系，用拉布必須的輕量·小型化，標(biāo)準(zhǔn)1分的高速測(cè)量。

另外，不受非浸染型的調(diào)諧器的影響，沒有自動(dòng)取景器的“5檢體連續(xù)測(cè)量”的標(biāo)準(zhǔn)裝備了新產(chǎn)品。

OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測(cè)量系統(tǒng)nanoSAQLA

特長：

1臺(tái)簡單地5檢體連續(xù)測(cè)量

從稀薄到濃厚的關(guān)系

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間1分的高速測(cè)量

搭載簡單測(cè)量功能（一個(gè)點(diǎn)擊可以開始測(cè)量）

非浸泡型的單元格塊內(nèi)沒有分注的轉(zhuǎn)換器

搭載溫度凹陷功能

測(cè)定範(fàn)囲（理論値）

粒子徑 0.6nm～10μm
濃度範(fàn)囲 0.00001～40％
溫度範(fàn)囲 0～90℃*

仕　様

型式	多検體ナノ粒子徑測(cè)定システム
測(cè)定原理	動(dòng)的光散亂法
光源	高出力半導(dǎo)體レーザー ^*1
検出器	高感度APD
連続測(cè)定	5検體
測(cè)定範(fàn)囲	0.6nm ～ 10μm
対応濃度	0.00001 ～ 40% ^*2
溫度	0 ～ 90℃ （溫度グラジエント機(jī)能あり） ^*3
規(guī)格	ISO 22412：2017 準(zhǔn)拠 JIS Z 8828：2013 準(zhǔn)拠 JIS Z 8826：2005 準(zhǔn)拠
サイズ	W240 X D480 X H375 mm
重量	約18 kg
ソフトウェア	平均粒子徑解析（キュムラント法解析）
	粒度分布解析（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法）
	粒度分布重ね書き
	逆相関関數(shù)?殘差プロット
	粒子徑モニター
	粒子徑表示範(fàn)囲（0.1 ～ 10⁶ nm）
	分子量計(jì)算機(jī)能

*1 本裝置はレーザーに関する**基準(zhǔn) （JIS C6802）のクラス1に區(qū)分される製品です。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、タウロコール酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)ガラスセルでのバッチ測(cè)定の場(chǎng)合。
ディスポセルや連続測(cè)定時(shí)は 15 ～ 40℃ （溫度グラジエント非対応）